老化是指采用高溫方法對(duì)產(chǎn)品施加環(huán)境應(yīng)力，而環(huán)境應(yīng)力篩選則不僅包括高溫應(yīng)力，還包括其他很多應(yīng)力，例如溫度循環(huán)、隨機(jī)振動(dòng)等方式對(duì)電源適配器進(jìn)行測(cè)試。

電子產(chǎn)品為什么在出廠前一定要做到百分之百老化測(cè)試；

因?yàn)樵陔娮赢a(chǎn)品在加工過(guò)程中，由于經(jīng)歷了復(fù)雜的加工和元器件物料的大量使用，將引入各種缺陷（即便設(shè)計(jì)再好的產(chǎn)品亦如此）。無(wú)論是加工缺陷還是元器件缺陷，都可分為明顯缺陷和潛在缺陷，明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能正常工作的缺陷，例如短路/斷路。而潛在缺陷導(dǎo)致產(chǎn)品暫時(shí)可以使用，但在使用中缺陷會(huì)很快暴露出來(lái)，產(chǎn)品不能正常工作，例如焊錫不足，產(chǎn)品雖然可以用，但輕微振動(dòng)可能就會(huì)使焊點(diǎn)斷路。明顯缺陷可通過(guò)常規(guī)檢驗(yàn)手段（即ICT:在線(xiàn)測(cè)試，In-Circuit Test，是通過(guò)對(duì)在線(xiàn)元器件（制成板上的元器件）的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線(xiàn)的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)、FT等）加以發(fā)現(xiàn)。潛在缺陷則無(wú)法用常規(guī)檢驗(yàn)手段發(fā)現(xiàn)，而是運(yùn)用老化的方法來(lái)剔除。如果老化方法效果不好，則未被剔除的潛在缺陷將zui終在產(chǎn)品運(yùn)行期間以早期失效（或故障）的形式表現(xiàn)出來(lái)，從而導(dǎo)致產(chǎn)品返修率上升，維修成本增加。